日本nikon尼康用于相差的CFI Plan Fluor系列显微镜物镜 DL 4XF

更新时间：2023-11-10

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的光学设计在多种技术下提供良好的分辨率

用于相差观察的CFI Plan Fluor系列物镜。这些物镜是多用途的；它们可用于明场，荧光和相差观察。它们能够帮助用户进行高质量的荧光观察，并在相差观察微观结构时提供优异的细节分辨率。这一点是很有吸引力的，因为在切换到荧光观察之前，使用相差来找到样品的感兴趣部分，是使荧光光漂白最小化的很好方法。

型号	外形尺寸	透过率	数值孔径	工作距离 (毫米)	盖玻片厚度	观察方式
CFI Plan Fluor DL 4XF	图	图形	0.13	16.50	1.20	BF，PH，FL（可见光，紫外线）
CFI Plan Fluor DLL 10X	图	图形	0.30	16.00	0.17	BF，DF（干式），PH，FL（可见光，紫外）
CFI Plan Fluor DL 10XF	图	图形	0.30	15.20	1.20	BF，DF（干式），PH，FL（可见光，紫外）
CFI Plan Fluor DLL 20X	图	图形	0.50	2.10	0.17	BF，DF（干式/油式），PH，FL（可见光，紫外）
CFI Plan Fluor DLL 40X	图	图形	0.75	0.66	0.17	BF，DF（干式/油式），PH，FL（可见光，紫外）
CFI Plan Fluor DLL 100X 油	图	图形	1.30	0.16	0.17	BF，PH，FL（可见光，紫外）
CFI Plan Fluor ADH 100X 油	图	图形	1.30	0.16	0.17	BF，PH，FL（可见光，紫外）

BF：明场
DF：暗场
PH：相差
POL：简易偏光
FL：荧光

*可以实现但不推荐
**外部相差观察方式使用ECLIPSE Ti2-E时可以实现

QQ截图20231110105539.jpg

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